Microscopie Electronique en Transmission (MET)

Résumé

Mat07

Prochaine session : du 2 au 4 avril 2025
 

Objectifs

• Connaître les principes de base des différents modes de fonctionnement du MET
• Acquérir les bases pratiques et savoir choisir les conditions opératoires optimales pour une utilisation efficace du MET (réglages contraste et image en mode haute résolution)
• Acquérir des notions de cristallographie et savoir orienter un échantillon monocristallin.
• Savoir interpréter les clichés de diffraction électronique et les images HRTEM.
 

Nos atouts pédagogiques

Cette formation courte s’appuie sur les moyens techniques de Grenoble INP - UGA, au travers de sa plateforme de caractérisation des matériaux CMTC, avec notamment un Microscope Electronique à Transmission équipé d’une caméra CCD et d’un détecteur EDX.

Les intervenants sont des enseignants chercheurs et ingénieurs permanents du laboratoire LMGP. Ils interviennent également dans la formation des futurs ingénieurs de Grenoble INP - Phelma, UGA école nationale supérieur de physique, électronique et matériaux.
   

Les plus de la formation :

• Plus de la moitié de la formation se déroule sous forme de travaux pratiques en petits groupes (maximum 4 personnes sur un instrument)
• Mise à disposition de divers échantillons pour se familiariser avec les divers modes d’imagerie
• Les stagiaires peuvent apporter un échantillon qui servira d’objet à analyser pendant la formation.

Conditions d'admission

Pour qui ? 
Cette formation s’adresse à des ingénieurs, chercheurs ou techniciens amenés à mettre en oeuvre la microscopie électronique à transmission ou à en exploiter les résultats. Des secteurs de recherche aussi variés que la microélectronique et la science des matériaux sont par exemple concernés.

Pré-requis : connaissances de base sur la structure de la matière (niveau bac+2)

Effectif : 4 à 8 personnes
 

Programme

1 - Présentation du MET
• Instrumentation
• Bases de l’imagerie, contrastes
• Alignement-Calibration

2 - Bases de cristallographie

3 - Imagerie conventionnelle et diffraction électronique

4 - Imagerie haute résolution et diffraction électronique
• Principe
• Orientation en axe de zone et image haute résolution
• Simulation images HRTEM (JEMS)

5 - Analyse ED X
• Mesures des compositions chimiques dans un échantillon

6 - Travaux dirigés
• Trajets des faisceaux dans le MET
• Indexation des clichés de diffraction
• Utilisation de logiciels (CaRIne, JEMS, Digital Micrograph, Photoshop)

7 - Préparation des échantillons
• Présentation des méthodes de préparation des échantillons (mécaniques, ioniques, particules isolées…)