> Formations courtes > Transformation technologique & numérique
Ville : GRENOBLE - Campus | ||
Tarif : 2 400 € / personne | ||
Durée : 3,5 jours |
Mat14
• Connaître les principes physiques associés aux techniques de diffraction des rayons X et de réflectométrie X
• Appréhender les spécificités des mesures de diffraction des rayons X en incidence rasante et de réflectométrie X sur les films minces
• Acquérir une première expérience pratique permettant de choisir les conditions opératoires les mieux adaptées au matériau étudié
• Savoir traiter et interpréter les données expérimentales
Pour qui ?
Cette formation s'adresse à des chercheurs, ingénieurs, ou techniciens supérieurs de laboratoires publics ou industriels, travaillant dans le domaine des matériaux, souhaitant mettre en œuvre ces techniques de caractérisation des couches minces par rayons X ou en exploiter les résultats. Des secteurs aussi variés que les semi-conducteurs, le traitement des surfaces, la galvanoplastie... sont par exemple concernés.
Pré-requis : connaissances de base sur la structure de la matière (niveau bac+2). Même si les principes de base sont rappelés lors du stage, une connaissance préalable, voir une pratique de la diffraction des rayons X sur poudre sont un plus pour profiter de la formation.
Effectif : 4 à 8 personnes
1- Diffraction X en incidence rasante coplanaire
• rappels de cristallographie et de radiocristallographie,
• rappels sur l’analyse de phase,
• diffraction des rayons X en incidence rasante,
• montage faisceau parallèle / montage Bragg-Brentano,
• spécificités de la diffraction des rayons X en incidence rasante : profondeur de pénétration, analyse des contraintes mécaniques et impact sur l’analyse de texture,
• Introduction à la diffraction X en incidence rasante non coplanaire, dite « in plane »
2- Réflectométrie X
• principes et intérêts de la réflectométrie X aux petits angles,
• diffusion spéculaire: les relations fondamentales de la réflectométrie X en mode spéculaire,
• Mesures de densité, d’épaisseur* et de rugosité ; applications substrat / films minces / multicouches,
• Choix des configurations expérimentales.
• Une introduction à la diffusion des rayons X hors spéculaire sera proposée.
* la gamme d'épaisseur accessible en réflectométrie X s'étend de quelques nanomètres à quelques centaines de nanomètres (submicronique).
L'étude spécifique des films minces épitaxiés / échantillons monocristallins n'entre pas dans le cadre de cette formation
Sujets traités lors des Travaux Pratiques (jour 3 matin et jour 4)
Pour la diffraction des rayons X en incidence rasante coplanaire puis la réflectométrie X :
• Procédures d’alignement,
• Choix des conditions opératoires et acquisition de données,
• Traitement des données et interprétation.
mise à jour le 22 février 2023