Caractérisation des couches minces par rayons X 30 mars - 2 avril

La formation Caractérisation des couches minces par rayons X inclut des enseignements sur les principes physiques associés aux techniques de diffraction des rayons X et de réflectométrie X, ainsi que sur les spécificités des mesures de diffraction des rayons X en incidence rasante et de réflectivité X sur les films minces.

Durant 3 jours et demi, des enseignants ingénieurs permanents du CMTC et du CEA Leti vous enseigneront les connaissances théoriques essentielles sur le sujet et vous permettront d’acquérir une première expérience pratique pour choisir les conditions opératoires les mieux adaptées au matériau étudié et enfin interpréter les données expérimentales.

Pour favoriser l'appropriation de ces connaissances, vous participerez à de nombreuses manipulations spécifiques ; il vous sera également possible de travailler sur votre propre échantillon pour observation au cours du stage.   Vous souhaitez suivre cette formation ? Il reste encore des places disponibles, inscrivez-vous vite !


Formation en partenariat avec l'INSTN