Plongée au coeur du « nanomonde » : zoom sur la formation Microscopie Electronique à Balayage (MEB) et microanalyse X
Publié le 13 juin 2019
A+Augmenter la taille du texteA-Réduire la taille du texteImprimer le documentEnvoyer cette page par mail
La microscopie électronique à balayage est devenue en 50 ans un outil indispensable dans l’exploration de « l’infiniment petit ». En constante évolution, elle s'applique aujourd'hui à de très nombreux secteurs d’activité tels que la science des matériaux, les nanotechnologies, la biologie, la géologie, la médecine, jusqu'aux laboratoires de police scientifique.
En 2020, la formation
Microscopie Electronique à Balayage (MEB) et microanalyse X fêtera ses 40 ans d’existence au sein du département Formation Continue de
Grenoble INP.
Avec près de
1800 personnes formées depuis 1980, cette formation emblématique qui détient le record de longévité à Grenoble INP, a su s’adapter aux
évolutions technologiques, pour répondre aux
besoins des entreprises et accompagner les professionnels tout au long de leur carrière.
La microscopie électronique à balayage (MEB) : une technique puissante d’observation
La
microscopie électronique à balayage MEB est une technique d’observation capable
d’imager des objets à différentes échelles, allant
du millimètre à quelques nanomètres.
Le
« nanomonde » correspond au monde des objets dont la taille est environ 10 000 fois inférieure à celle d’un cheveu. Dans un MEB, un
faisceau d’électrons balaye la surface de l’échantillon et engendre
l’émission d’un signal secondaire (électrons secondaires, électrons rétrodiffusés…), qui sera à son tour analysé et permettra la construction d’une
image de topographie ou de
composition chimique de la surface de l’échantillon.
La microanalyse X : déterminer la composition chimique
La microanalyse X, par spectrométrie X à sélection d’énergie (EDS) fonctionne de pair avec la microscopie électronique à balayage MEB. Cette technique permet la détermination de la composition chimique de la surface de l’échantillon, via l’analyse des photons X générés par ce dernier. La nature des éléments chimiques constituant l’échantillon est alors retranscrite sous forme de spectre, composé de série de pics d'intensité variable mais de positions remarquables, chaque élément chimique ayant sa propre signature.
La haute technologie au cœur de la formation Grenoble INP
Juste équilibre entre
apports théoriques et cas pratiques, la formation
Microscopie Electronique à Balayage (MEB) et microanalyse X, s’appuie sur les moyens techniques que met à disposition
Grenoble INP au travers de sa
plateforme de caractérisation des matériaux CMTC (Consortium des Moyens Technologiques Communs).
Equipés des
dernières technologies, les instruments mis à disposition par la
plateforme CMTC sont régulièrement renouvelés. Les professionnels peuvent ainsi découvrir des
outils de pointe et optimiser leurs connaissances sur
des instruments toujours plus
performants et conviviaux.
La
moitié du temps de formation se déroule sous la forme de
travaux pratiques réalisés en petits groupes, ce qui offre aux professionnels
l’accès à une grande variété d’instruments (MEB à effet de champ, MEB à pression partielle et MEB environnemental avec systèmes d’analyses EDS associés) ainsi qu’à un
large panel d’échantillons à observer.
L’expertise de l’équipe pédagogique
La qualité de cette formation repose également sur l’expertise reconnue au niveau national de son équipe pédagogique, composée dans sa majeure partie d’ingénieurs permanents de la plateforme CMTC et de plusieurs intervenants chercheurs au laboratoire SIMAP (Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés).
Vous souhaitez suivre une de nos sessions de formation ?
Inscrivez-vous à la prochaine !
16-20 septembre 2019
A+Augmenter la taille du texteA-Réduire la taille du texteImprimer le documentEnvoyer cette page par mail
mise à jour le 24 juin 2019
> Formations courtes > Matériaux-Mécanique
Nos sites
e-Services
